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         Macleod薄膜專題設(shè)計中高級培訓(xùn)

1. 光學(xué)薄膜設(shè)計

1.1 光學(xué)薄膜設(shè)計的進展

1.2 光學(xué)薄膜設(shè)計中的一些實際問題

1.3 光學(xué)薄膜設(shè)計技巧

1.4 特殊光學(xué)薄膜的設(shè)計方法

1.5 Macleod軟件的設(shè)計與優(yōu)化功能

1.5.1 優(yōu)化目標(biāo)設(shè)置

1.5.2 優(yōu)化方法（單一優(yōu)化，合成優(yōu)化，模擬退火法，共軛梯度法，準(zhǔn)牛頓法，針形優(yōu)化，差分演化法）

1.5.3 膜層鎖定和鏈接

2. 常規(guī)光學(xué)薄膜系統(tǒng)設(shè)計與分析

2.1 減反射薄膜

2.2 分光膜

2.3 高反射膜

2.4 干涉截止濾光片

2.5 窄帶濾光片

2.6 負(fù)濾光片

2.7 非均勻膜與Rugate濾光片

2.8 顏色膜

2.9 Vstack薄膜設(shè)計示例

2.10 Stack應(yīng)用范例說明

3. VR、AR及HUD用光學(xué)薄膜

3.1 背景介紹

3.2 產(chǎn)品特性

3.3 典型VR系統(tǒng)光學(xué)薄膜設(shè)計分析

3.4 典型AR系統(tǒng)光學(xué)薄膜設(shè)計分析

3.5 典型HUD系統(tǒng)光學(xué)薄膜設(shè)計分析

4. 防霧薄膜

4.1自清潔效應(yīng)

4.2 超親水薄膜

4.3 超疏水薄膜

4.4 防霧薄膜的制備

4.5 防霧薄膜的性能測試

5. 材料管理

5.1 光學(xué)薄膜材料性能及應(yīng)用評述

5.2 金屬與介質(zhì)薄膜

5.3 材料模型

5.4 介質(zhì)薄膜光學(xué)常數(shù)的提取

5.5 金屬薄膜光學(xué)常數(shù)的提取

5.6 基板光學(xué)常數(shù)的提取

5.7 光學(xué)常數(shù)導(dǎo)出遇到的問題及解決思路

6. 薄膜制備技術(shù)

6.1 常見薄膜制備技術(shù)

6.2 光學(xué)薄膜制備流程

6.3 淀積技術(shù)

6.4 工藝因素

7. 誤差、容差與光學(xué)薄膜監(jiān)控技術(shù)

7.1 光學(xué)薄膜監(jiān)控技術(shù)

7.2 誤差分析與監(jiān)控決策

7.3 Runsheet 與 Simulator應(yīng)用技巧

7.4 膜系靈敏度分析

7.5 膜系容差分析

7.6 誤差分析工具

8. 反演工程

8. 1 鍍膜過程中兩種主要的誤差（系統(tǒng)誤差和隨機誤差）

8.2 使用反演工程來控制對設(shè)計的搜索

9. 應(yīng)力、張力、溫度和均勻性工具

9.1 光學(xué)性質(zhì)的熱致偏移

9.2 應(yīng)力工具

9.3 均勻性誤差(圓錐工具、波前問題)

10. Function功能擴展

10.1 如何在Function中編寫操作數(shù)

10.2 如何在Function中編寫腳本

10.3 案例：太陽能抗反射薄膜設(shè)計與計算

10.4 案例：OLED薄膜及微腔效應(yīng)

11. 光學(xué)薄膜特性測量

11.1 薄膜光學(xué)常數(shù)的測量

11.2 薄膜堆積密度的測量

11.3 薄膜微觀結(jié)構(gòu)分析

11.4 薄膜成分分析

11.5 薄膜硬度、附著性及耐摩擦性的測量

11.6 薄膜表面粗糙度的測量

12. 項目管理與應(yīng)用實例

12.1 項目管理

12.2 光學(xué)薄膜項目開發(fā)過程

12.3 客戶需求分析

12.4 文檔管理與報表生成

13. 特殊薄膜設(shè)計

13.1 仿生蛾眼結(jié)構(gòu)在顯示技術(shù)上的應(yīng)用

13.2 金屬線柵偏振膜